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dc.creatorYESSAMIN GABRIELA DE LIMA COSTA-
dc.date.accessioned2024-12-23T20:21:28Z-
dc.date.available2024-12-23T20:21:28Z-
dc.date.issued2024pt_BR
dc.identifier.urihttps://repositorio.ufms.br/handle/123456789/10995-
dc.description.abstractSilicon is a semiconductor material widely used in the electronics industry, therefore, an accurate understanding of its structural properties is essential to optimize its applications in devices such as transistors, integrated circuits, solar cells. Furthermore, silicon-based components are widely used in sensors for automobiles, medical devices and automation systems. Thus, this work aims to provide an introductory analysis of the crystalline and electronic structure of silicon, using simulations performed in Quantum ESPRESSO, based on first-principles methods. The methodology used was Density Functional Theory (DFT), an ab initio method for solving the Schrodinger equation, using a PBE (Perdew-Burke-Ernzerhof) functional. In particular, an analysis was made of the result of the approximation applied to the exchange and correlation term of the density functional, an area that undoubtedly represents one of the focuses of greatest research activity today. The results obtained for the structural and electronic properties of silicon show good alignment with experimental data, reinforcing the relevance of computational simulations in the study and development of materials.-
dc.language.isopt_BRpt_BR
dc.publisherFundação Universidade Federal de Mato Grosso do Sulpt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subject.classificationCiências Exatas e da Terrapt_BR
dc.titleUMA ANÁLISE DAS CARACTERÍSTICAS ESTRUTURAIS DO SILÍCIO APLICANDO MÉTODOS DE PRIMEIROS PRINCÍPIOSpt_BR
dc.typeTrabalho de Conclusão de Cursopt_BR
dc.contributor.advisor1DIOGO DUARTE DOS REIS-
dc.description.resumoO silício é um material semicondutor amplamente utilizado na indústria eletrônica, portanto, a compreensão precisa de suas propriedades estruturais é essencial para otimizar suas aplicações em dispositivos como transistores, circuitos integrados, células solares, além disso, os componentes baseados em silício são amplamente usados em sensores para automóveis, dispositivos médicos e sistemas de automação. Dessa forma, este trabalho tem por objetivo a análise introdutória da estrutura cristalina e eletrônica do silício, utilizando simulações realizadas no Quantum ESPRESSO, com base em métodos de primeiros princípios. A metodologia usada foi a Teoria do Funcional da Densidade (DFT), um método ab initio para a solução da equação de Schrodinger, utilizando um funcional PBE (Perdew-Burke-Ernzerhof). Em particular, foi feita uma análise sobre o resultado da aproximação aplicada ao termo de troca e correlação do funcional da densidade, uma área que, sem dúvida, representa um dos focos de maior atividade de pesquisa atualmente. Os resultados obtidos para as propriedades estruturais e eletrônicas do silício mostram um bom alinhamento com os dados experimentais, reforçando a relevância das simulações computacionais no estudo e desenvolvimento de materiais.pt_BR
dc.publisher.countrynullpt_BR
dc.publisher.initialsUFMSpt_BR
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